| 标题 |
3D backside integration of FinFETs: Is there an impact on LF noise? |
| 网址 | |
| DOI |
10.1016/j.sse.2023.108724
doi
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| 其它 |
期刊:Solid-State Electronics 作者:Eddy Simoen; Anne Jourdain; Cor Claeys; A. Veloso 出版日期:2023-07-19 |
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