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 Neutron Induced Single Event Testing of Commercial Ferroelectric Memory Device (FRAM) 商用铁电存储器件（FRAM）的中子诱导单粒子测试
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期刊： 作者：Terrence F. Deaton; Michael J. Tostanoski; Michael K. Peters; Kristianto Hartojo; Gerard Lachiewicz; et al 出版日期：2023-07-01 |
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