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标题
Maximum Ti concentrations in Si quantified with atom probe tomography (APT)
用原子探针层析成像(APT)定量硅中的最大钛浓度
相关领域
原子探针 过冷 材料科学 二次离子质谱法 离子 离子注入 分析化学（期刊） Atom（片上系统） 硅 化学 冶金 热力学 微观结构 物理 嵌入式系统 有机化学 色谱法 计算机科学
网址
https://doi.org/10.1063/5.0029981
DOI
10.1063/5.0029981 doi
其它 期刊：Journal of Applied Physics
作者：Austin J. Akey; Jay Mathews; Jeffrey M. Warrender
出版日期：2021-05-06
求助人
凌云 在 2025-08-19 19:24:34 发布，悬赏 10 积分
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