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![]() 非晶Al2O3金属-绝缘体-金属堆叠的原子缺陷分布和可靠性
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期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Paolo La Torraca; Francesco Caruso; Andrea Padovani; G. Tallarida; Sabina Spiga; et al 出版日期:2022-05-13 |
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Monowi
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2025-08-04 12:51:38 发布,悬赏 10 积分
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