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 Accuracy and resolution limits of Kelvin probe force microscopy 开尔文探针力显微镜的精度和分辨率极限
相关领域
开尔文探针力显微镜
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期刊：Physical Review B 作者：Ulrich Zerweck; Christian Loppacher; Tobias Otto; S. Grafström; Lukas M. Eng 出版日期：2005-03-25 |
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