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 Modulation of microstructure and interface properties of co-sputter derived Hf1−xTixO2 thin films with various Ti content 不同Ti含量共溅射Hf1-xTixO2薄膜微观结构和界面性质的调制
相关领域
微观结构
材料科学
薄膜
溅射
接口（物质）
内容（测量理论）
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溅射沉积
冶金
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物理
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毛细管数
毛细管作用
声学
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期刊：Journal of materials science. Materials in electronics 作者：K. C. Das; Sandip Ghosh; N. Tripathy; Rahul Singhal; Jyoti Prakash Kar 出版日期：2017-05-10 |
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