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标题
Effect of sputtering working pressure on the reliability and performance of amorphous indium gallium zinc oxide thin film transistors
溅射工作压力对非晶铟镓锌氧化物薄膜晶体管可靠性和性能的影响
相关领域
薄膜晶体管 材料科学 溅射 无定形固体 阈值电压 光电子学 薄膜 X射线光电子能谱 溅射沉积 薄脆饼 晶体管 冶金 复合材料 电压 纳米技术 电气工程 化学 化学工程 结晶学 图层(电子) 工程类
网址
DOI
10.1063/5.0188437 doi
其它 期刊:AIP Advances
作者:T. J. Lee; Jin-Seok Park; Saeroonter Oh
出版日期:2024-03-01
求助人
风中擎 在 2025-11-28 14:29:17 发布自湖南,悬赏 10 积分
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