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Reliability analysis of computed tomography equipment using the q‐Weibull distribution
基于Q-Weibull分布的计算机断层摄影设备可靠性分析
相关领域
威布尔分布
威布尔模量
可靠性(半导体)
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期刊:Engineering reports 作者:Fan Litian; Hu Zhi; Qingqing Ling; Hanwei Li; Hongliang Qi; et al 出版日期:2023-01-17 |
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