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 Measurement of mechanical properties of electronic materials at temperatures down to 4.2K 温度低至4.2 K时电子材料力学性能的测量
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期刊：Cryogenics 作者：Markus Fink; Th. Fabing; Michael Scheerer; E. Semerad; B. D. Dunn 出版日期：2008-11-01 |
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