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Self-Heating Stress-Induced Severe Humps in Transfer Characteristics of Amorphous InGaZnO Thin-Film Transistors 相关领域
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期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Huan Yang; Tengyan Huang; Xiaoliang Zhou; Jiye Li; Sikai Su; et al 出版日期:2021-12-01 |
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