| 标题 |
Force measurements with the atomic force microscope: Technique, interpretation and applications 相关领域
表面力仪
表面力
哈梅克常数
化学
弹性(物理)
原子力显微镜
纳米技术
材料科学
化学物理
伦敦分散部队
开尔文探针力显微镜
范德瓦尔斯力
分子
经典力学
物理
复合材料
范德瓦尔斯半径
有机化学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Surface Science Reports 作者:Hans‐Jürgen Butt; Brunero Cappella; Michael Kappl 出版日期:2005-10-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)