| 标题 |
Pulsed 193 nm Excimer laser processing of 4H–SiC (0001) wafers with radiant exposure dependent in situ reflectivity studies for process optimization 脉冲193 nm准分子激光加工4H-SiC(0001)晶片,用于工艺优化的辐射暴露相关原位反射率研究
相关领域
材料科学
激光器
薄脆饼
准分子激光器
微电子
碳化硅
光电子学
穿透深度
脉冲持续时间
光学
半导体
复合材料
物理
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Materials Science in Semiconductor Processing 作者:Alvaro Menduina; Ángel F. Doval; Ralph Delmdahl; Elena Martín; Krishna Kant; et al 出版日期:2023-09-15 |
| 求助人 | |
| 下载 | |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|