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 Ultimate Scaling of the Metal‐MoS2 Interface Achieving High Performance Nanoscale Schottky Diodes via Conductive Atomic Force Microscopy 相关领域
肖特基二极管
材料科学
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期刊：Small 作者：Saejin Oh; Chengyun Hong; Vu Khac Dat; Jeongyong Kim; Yooun Heo; et al 出版日期：2025-04-08 |
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