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 Gate bias stress reliability of a-InGaZnO TFTs under various channel dimension 相关领域
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期刊：Microelectronics Reliability 作者：Jaewoong Cho; Ji‐Won Choi; Minh Phuong Nguyen; Thanh Thuy Trinh; Jang‐Kun Song; et al 出版日期：2023-12-27 |
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