Defects affecting SiC power device reliability

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标题	Defects affecting SiC power device reliability 影响SiC功率器件可靠性的缺陷相关领域材料科学堆积碳化硅制作功率半导体器件光电子学可靠性（半导体）硅泄漏（经济）晶体缺陷外延工程物理电力电子基质（水族馆）电气工程功率（物理）图层（电子）纳米技术复合材料凝聚态物理工程类海洋学量子力学替代医学核磁共振宏观经济学病理经济物理地质学电压医学
网址	https://doi.org/10.1109/irps.2018.8353546
DOI	10.1109/irps.2018.8353546 doi
其它	期刊：作者：R. E. Stahbush; Nadeemullah A. Mahadik 出版日期：2018-03-01
求助人	NOIR4LU 在 2025-11-22 10:12:03 发布自湖北，悬赏 10 积分
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