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 Temperature Coefficients for Impact Ionization in Silicon Derived From Temperature Coefficients of Avalanche Voltage 由雪崩电压温度系数导出硅中冲击电离的温度系数
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期刊：IEEE Transactions on Electron Devices 作者：Philipp Steinmann; Daniel J. Lichtenwalner; Suman Das; Jae Hyung Park; Shane Stein; et al 出版日期：2024-01-01 |
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