Highly Reliable Electrocaloric Behaviors of Antiferroelectric Al:ZrO2 Thin Films for Solid-State Cooling in Integrated Circuits

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标题	Highly Reliable Electrocaloric Behaviors of Antiferroelectric Al:ZrO2 Thin Films for Solid-State Cooling in Integrated Circuits 用于集成电路固态冷却的反铁电Al：ZrO2薄膜的高可靠电热行为相关领域材料科学分析化学（期刊）化学有机化学
网址	https://doi.org/10.1109/ted.2021.3119532
DOI	10.1109/ted.2021.3119532 doi
其它	期刊：IEEE Transactions on Electron Devices 作者：Yuhua Liu; Li-Hsiang Lin; Shao-Hao Lu; Hsin‐Chun Lu; Jer‐Chyi Wang 出版日期：2021-10-26
求助人	TWENTY 在 2025-10-29 11:31:40 发布自福建，悬赏 10 积分
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