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![]() 高密度直流电长期暴露对基于REBCO的2G HTSC带载流能力的影响
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期刊:Journal of Physics Conference Series 作者:S. V. Veselova; Maxim Osipov; A. S. Starikovskii; I Anishenko; С. В. Покровский; et al 出版日期:2021-07-01 |
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zhx
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