Stacking faults induced high dielectric permittivity of SiC wires

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标题	Stacking faults induced high dielectric permittivity of SiC wires 堆垛层错引起的SiC线高介电常数相关领域堆积材料科学介电常数偶极子异质结凝聚态物理电介质透射电子显微镜宽禁带半导体光电子学核磁共振纳米技术化学物理有机化学
网址	https://doi.org/10.1063/1.4821036
DOI	10.1063/1.4821036 doi
其它	期刊：Applied Physics Letters 作者：Jianlei Kuang; Wenbin Cao 出版日期：2013-09-09
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