Leakage Suppression Across Temperature in Al1-xScxN Thin Film Ferroelectric Capacitors Through Boron Incorporation

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标题	Leakage Suppression Across Temperature in Al1-xScxN Thin Film Ferroelectric Capacitors Through Boron Incorporation
网址	https://doi.org/10.1109/led.2025.3587950
DOI	10.1109/led.2025.3587950 doi
其它	期刊：IEEE Electron Device Letters 作者：Pedram Yousefian; Xiangmin Tong; Jonathan M. Tan; Dhiren K. Pradhan; Deep Jariwala; et al 出版日期：2025-07-10
求助人	小冬腊月在 2026-10-13 21:51:31 发布自河北，悬赏 10 积分
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