| 标题 |
 Effective scan chain failure analysis method 一种有效的扫描链失效分析方法
相关领域
一套
计算机辅助设计
断层（地质）
链条（单位）
软件
可靠性工程
计算机科学
扫描链
工程类
工程制图
物理
考古
天文
地震学
集成电路
历史
程序设计语言
地质学
操作系统
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Microelectronics Reliability 作者：Etienne Auvray; Paul Armagnat; Luc Saury; Maheshwaran Jothi; Michael Brügel 出版日期：2017-08-05 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
pluto
昏睡的蟠桃
bc
cdercder
jenningseastera
qiao
Oracle
pcr163
不倦
HEIKU
iNk
HEAUBOOK
小飞飞
笨笨芯
平常的毛豆
今天只做一件事
研友_Y59785
善良的剑通
糟糕的铁锤
科研小民工
皖公网安备34019202002308
