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 Failure mode and lifetime evaluation of 808nm high power semiconductor laser bars 808nm高功率半导体激光器棒的失效模式及寿命评估
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材料科学
半导体激光器理论
可靠性（半导体）
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功率（物理）
半导体
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期刊：2022 23rd International Conference on Electronic Packaging Technology (ICEPT) 作者：Wenyuan Liao; Linting Zheng; Rui Gao; Yuebo Liu; Shuwang Li; et al 出版日期：2022-08-10 |
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