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High-resolution X-ray Bragg diffraction in Al thermomigrated Si channels
Al热迁移Si沟道中的高分辨X射线Bragg衍射
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期刊:Journal of Applied Crystallography 作者:A. A. Lomov; В. И. Пунегов; A. Yu. Belov; B. M. Seredin 出版日期:2022-05-28 |
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