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Polarization-State-Dependent Charge Screening in Metal-Ferroelectric-Metal Memcapacitors Enabled by an IGZO Oxygen Reservoir Layer |
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期刊:ACS Appl Mater Interfaces 作者:Kim D, Shin H, Kim J, Park H, Han C, Choi M, Shin C 出版日期:2026-07-01 |
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(2025-6-4)