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Characterization of PECVD Si3N4 thin film in multiple oxide–nitride stack for 3D-NAND flash memory |
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期刊:Semiconductor Science and Technology 作者:Jaekeun Baek; Surin An; Ahhyun Park; Ki‐Yeon Kim; Sang Jeen Hong 出版日期:2023-10-17 |
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(2025-6-4)