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Impact of process variation on the RF and stability performance of SiGe source-based epitaxial layer TFET 工艺变化对SiGe源基外延层TFET射频和稳定性能的影响
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期刊:Journal of Computational Electronics 作者:Radhe Gobinda Debnath; Srimanta Baishya 出版日期:2022-08-01 |
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