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 Experimental and theoretical investigation of exposure dose fluctuations in DLWL: Step length effects on surface accuracy for planar and curved structures DLWL中暴露剂量波动的实验和理论研究：步长对平面和弯曲结构表面精度的影响
相关领域
平面的
两步走
材料科学
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计算机图形学（图像）
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期刊：Optics & Laser Technology 作者：Hui Wan; Yue Zhang; Shuo Chen; Yu Shu; Xintian Cai 出版日期：2025-05-22 |
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