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 System-level creep-fatigue reliability evaluation by engineering damage mechanics incorporating cumulative damage-damage threshold interference 相关领域
可靠性（半导体）
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期刊：International Journal of Fatigue 作者：Hang-Hang Gu; Run‐Zi Wang; Kun-Zhang; Ji Wang; Li Sun; et al 出版日期：2023-06-20 |
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