Electrical Reliability of Flexible Low-Temperature Polycrystalline Oxide Thin-Film Transistors Under Mechanical Stress

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标题	Electrical Reliability of Flexible Low-Temperature Polycrystalline Oxide Thin-Film Transistors Under Mechanical Stress 柔性低温多晶氧化物薄膜晶体管在机械应力作用下的电可靠性相关领域材料科学薄膜晶体管极限抗拉强度无定形固体压力（语言学）复合材料光电子学结晶学化学语言学哲学图层（电子）
网址	https://doi.org/10.1109/ted.2022.3229292
DOI	10.1109/ted.2022.3229292 doi
其它	期刊：IEEE Transactions on Electron Devices 作者：Chanhee Han; Hyojung Kim; Dongbhin Kim; Jaewoo Shin; Yubin Park; et al 出版日期：2022-12-20
求助人	Laundry 在 2025-04-23 12:20:43 发布自福建，悬赏 10 积分
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