Reliability testing and screening: A general review paper

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标题	Reliability testing and screening: A general review paper 相关领域可靠性工程可靠性（半导体）计算机科学工程类物理量子力学功率（物理）
网址	https://doi.org/10.1016/0026-2714(78)91314-8
DOI	10.1016/0026-2714(78)91314-8 doi
其它	期刊：Microelectronics Reliability 作者：C.M. Ryerson 出版日期：1978-01-01
求助人	镜泠月在 2023-02-12 20:36:20 发布自湖北，悬赏 10 积分
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