| 标题 |
 Effect of H2 content on reliability of ultrathin in-situ steam generated (ISSG) SiO2 相关领域
SILC公司
氧化物
悬空债券
氧气
材料科学
氢
光电子学
原位
硅
化学
分析化学（期刊）
色谱法
有机化学
冶金
|
| 网址 | |
| DOI |
10.1109/55.863100
doi
|
| 其它 |
期刊：IEEE Electron Device Letters 作者：T.Y. Luo; M. Laughery; G.A. Brown; H.N. Al-Shareef; V.H.C. Watt; et al 出版日期：2000 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
cdercder
pluto
归尘
Rye227
冰魂
bc
昏睡的蟠桃
jenningseastera
乐乐
平常的毛豆
back you up
科研小民工
遇上就这样吧
不倦
今天只做一件事
顺心香菇
zmnzmnzmn
Auston_zhong
Cat
wy.he
皖公网安备34019202002308
