| 标题 |
 A novel quality inspection method for components with small diameter and deep aperture 相关领域
质量（理念）
光圈（计算机存储器）
计算机科学
光学
图像质量
计量学
材料科学
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| 其它 |
期刊：AOPC 2020: Telescopes, Space Optics, and Instrumentation 作者：Yawen Cai; Jie Liu; Jiuli Liu; Chi Zhang; Ziyang Zhang; Suijian Xue 出版日期：2020 |
| 求助人 |
GgstuDdu
在
2022-05-25 09:04:57 发布，悬赏 10 积分
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