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Gate Robustness and Reliability of P-Gate GaN HEMT Evaluated by a Circuit Method 用电路方法评估P栅GaN HEMT的栅极鲁棒性和可靠性
相关领域
材料科学
光电子学
响铃
与非门
晶体管
逻辑门
随时间变化的栅氧化层击穿
高电子迁移率晶体管
栅氧化层
占空比
等效门电路
和大门
栅极电介质
电气工程
电子工程
电压
工程类
滤波器(信号处理)
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期刊:IEEE Transactions on Power Electronics 作者:Bixuan Wang; Ruizhe Zhang; Qihao Song; Hengyu Wang; Quanbo He; et al 出版日期:2024-01-17 |
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