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Band Bending and Trap Distribution along the Channel of Organic Field-Effect Transistors from Frequency-Resolved Scanning Photocurrent Microscopy 从频率分辨扫描光电流显微镜观察有机场效应晶体管沟道上的能带弯曲和陷阱分布
相关领域
并五苯
光电流
材料科学
带材弯曲
场效应晶体管
光电子学
晶体管
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物理
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薄膜晶体管
量子力学
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期刊:Electronics 作者:Gion Kalemai; Nikolaos Vagenas; A. Giannopoulou; P. Kounavis 出版日期:2022-06-06 |
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