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标题
Experimental Investigation of Drain Noise in High Electron Mobility Transistors: Thermal and Hot Electron Noise
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网址
http://dx.doi.org/10.1109/ted.2024.3445889
DOI
10.1109/ted.2024.3445889 doi
其它 期刊：IEEE Transactions on Electron Devices
作者：Bekari Gabritchidze; J. Chen; Kieran Cleary; A. C. S. Readhead; Austin J. Minnich
出版日期：2024-09-11
求助人
刻苦的易形 在 2026-01-12 14:57:39 发布自四川，悬赏 10 积分
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    刻苦的易形 刻苦的易形 Lv1 求助人 发起了本次求助

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