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 Inhibiting the Kink Effect and Hot-Carrier Stress Degradation Using Dual-Gate Low-Temperature Poly-Si TFTs 利用双栅低温多晶硅薄膜晶体管抑制扭结效应和热载流子应力退化
相关领域
材料科学
薄膜晶体管
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期刊：IEEE Electron Device Letters 作者：Hong-Chih Chen; Hong‐Yi Tu; Hui‐Chun Huang; Wei‐Chih Lai; Ting‐Chang Chang; et al 出版日期：2019-11-06 |
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