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Nanoscale resolution microchannel flow velocimetry by atomic force microscopy 基于原子力显微镜的纳米级微通道流速测量
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期刊:Applied Physics Letters 作者:Brian Piorek; Ádám Mechler; Ratnesh Lal; Patrick Freudenthal; Carl Meinhart; Sanjoy Banerjee 出版日期:2006-10-18 |
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