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 Coulomb blockade of the conductivity of SiOx films due to one-electron charging of a silicon quantum dot in a chain of electronic states 硅量子点在电子态链中的单电子充电对SiOx薄膜电导率的库仑阻塞
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期刊：Semiconductors 作者：M. D. Efremov; Г. Н. Камаев; В. А. Володин; S. A. Arzhannikova; G. A. Kachurin; et al 出版日期：2005-08-01 |
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