标题 |
A Comprehensive Review for Micro/Nanoscale Thermal Mapping Technology Based on Scanning Thermal Microscopy
基于扫描热显微术的微米/纳米级热成像技术综述
相关领域
扫描热显微术
表征(材料科学)
显微镜
扫描探针显微镜
纳米尺度
纳米技术
材料科学
分辨率(逻辑)
热的
计算机科学
光学
物理
人工智能
热力学
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其它 |
期刊:Journal of Thermal Science 作者:Yifan Li; Yuan Zhang; Yicheng Liu; Huaqing Xie; Wei Yu 出版日期:2022-07-01 |
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