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Time-Dependent Hot Carrier Degradation in Polysilicon Emitter Bipolar Transistors Under High Current and Radiation Combined Stress
高电流和辐射复合应力下多晶硅发射极双极晶体管热载流子随时间的退化
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期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Peijian Zhang; Zicheng Xu; Tao Wang; Wensuo Chen; Min Hong; et al 出版日期:2021-07-26 |
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