标题 |
Perspective on atomic scale investigation of point and extended defects in gallium oxide
氧化镓中点缺陷和扩展缺陷的原子尺度研究展望
相关领域
晶体缺陷
掺杂剂
原子单位
材料科学
纳米技术
异质结
兴奋剂
表征(材料科学)
镓
宽禁带半导体
带隙
光电子学
化学
结晶学
物理
冶金
量子力学
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其它 |
期刊:Journal of applied physics 作者:Hsien‐Lien Huang; Christopher Chae; Jinwoo Hwang 出版日期:2022-05-16 |
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