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Safe Operating Area (SOA) reliability of Polarization Super Junction (PSJ) GaN FETs
极化超结GaN场效应晶体管的安全工作区可靠性
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期刊:2018 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) 作者:Bhawani Shankar; Ankit Soni; Sayak Dutta Gupta; Mayank Shrivastava 出版日期:2018-05-09 |
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