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Dual-Functional Ni/4H-SiC Schottky Interfaces: Robust UV and X-ray Detection, Imaging in Extreme Environments |
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期刊:ACS Applied Electronic Materials 作者:Chowdam Venkata Prasad; Sunjae Kim; Beomjun Park; Hyeongju Cha; Seung-Hyun Park; et al 出版日期:2026-01-01 |
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