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 Chalcogen Alloy‐Engineered Te 2 Se/Si Heterojunctions for Low‐Noise Complementary Metal‐Oxide Semiconductor‐Compatible Short‐Wave Infrared Imaging 相关领域
材料科学
光电探测器
光探测
光电子学
异质结
碲化镉汞
暗电流
硫族元素
碲
红外线的
带隙
砷化铟
半导体
砷化镓
整改
铟
碲化镉光电
比探测率
光电二极管
硫系化合物
碲化物
电子迁移率
砷化铟镓
光学
载流子
氧化铟锡
吸收率
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期刊：Advanced Optical Materials 作者：Byeongjin Park; Sieun Yun; Seock‐Jin Jeong; Euiyoung Choi; Min Cheol Kim; et al 出版日期：2026-10-07 |
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