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A multi-ion plasma FIB study: Determining ion implantation depths of Xe, N, O and Ar in tungsten via atom probe tomography |
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期刊:Ultramicroscopy 作者:Katja Eder; Vijay Bhatia; Jiangtao Qu; Brandon Van Leer; Mikhail Dutka; et al 出版日期:2021-05-30 |
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