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 Twin-scale Vernier Micro-pattern for Visual Measurement of 1-D in-plane Absolute Displacements with Increased Range-to-Resolution Ratio 相关领域
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期刊：International Journal of Optomechatronics 作者：July Galeano Zea; Patrick Sandoz; Guillaume J. Laurent; Lucas Lopes Lemos; Cédric Clevy 出版日期：2013-08-09 |
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