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 Electrical and structural characterization of Mg-doped p-type Al0.69Ga0.31N films on SiC substrate SiC衬底上掺镁p型Al0.69Ga 0.31 N薄膜的电学和结构表征
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期刊：Journal of Applied Physics 作者：Arpan Chakraborty; Craig G. Moe; Yuan Wu; Tom Mates; S. Keller; et al 出版日期：2007-03-01 |
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