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[高分] 学位论文 Study on the resistive switching mechanism and the switching reliability improvement of the Cu based conductive bridge random access memory
铜基导电桥式随机存取存储器的电阻开关机制及开关可靠性提高研究
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期刊： 作者：Hye Jin Kim 出版日期：2019-01-01 |
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