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 A light-weight defect detection model for capacitor appearance based on the Yolov5 基于Yolov5的电容器外观缺陷轻量化检测模型
相关领域
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期刊：Measurement 作者：Lei Xu; Xuemei Xu; Qinglin Xia; Yexia Yao; Zhaohui Jiang 出版日期：2024-06-01 |
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