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 X-ray scattering profiles: revealing the porosity gradient in porous silicon X射线散射剖面：揭示多孔硅中的孔隙率梯度
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期刊：Journal of Applied Crystallography 作者：Cosmin Romaniţan; Pericle Varasteanu; Daniela C. Culiță; Alexandru Bujor; Oana Tutunaru 出版日期：2021-05-25 |
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